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Original title:
In situ Polarised Neutron Reflectometry and Investigations of Exchange Biased and Multiferroic Heterostructures 
Translated title:
In situ polarisierte Neutronenreflektometrie und Untersuchungen an Heterostrukturen mit Exchange Bias und Multiferroismus 
Year:
2019 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Advisor:
Böni, Peter (Prof. Dr.) 
Referee:
Böni, Peter (Prof. Dr.); Hackl, Rudolf (Priv.-Doz. Dr.) 
Language:
en 
Subject group:
PHY Physik; WER Werkstoffwissenschaften 
Keywords:
Polarised neutron reflectometry, thin films, magnetism, exchange bias, multiferroics 
Translated keywords:
Polarisierte Neutronenreflektometrie, dünne Schichten, Magnetismus, Exchange Bias, Multiferroika 
TUM classification:
PHY 600d; WER 000d; PHY 480d 
Abstract:
In situ polarised neutron reflectometry is a novel powerful analysis technique, which can unveil many of the key properties of magnetic thin films during their process of growth. In this work, the technique was developed to maturity, which allows investigations of a variety of thin film materials to be performed. In addition, the thin film heterostructures Tb/Dy, La0.67Sr0.33MnO3/BaTiO3 and EuO/BaO, which might exhibit promising properties for spintronic applications like exchange bias and multi...    »
 
Translated abstract:
Die in situ polarisierte Neutronenreflektometrie ist eine neuartige leistungsstarke Analysetechnik, die viele der wichtigsten Eigenschaften magnetischer dünner Schichten während ihres Wachstumsprozesses offenlegen kann. In dieser Arbeit wurde die Technik bis zur technologischen Reife entwickelt, welche Untersuchungen an einer Vielzahl von Dünnschichtmaterialien ermöglicht. Zusätzlich wurden die Dünnschichtheterostrukturen Tb/Dy, La0.67Sr0.33MnO3/BaTiO3 und EuO/BaO erforscht, die vielversprechen...    »
 
Oral examination:
20.09.2019 
File size:
105360174 bytes 
Pages:
226 
Last change:
25.09.2019