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Originaltitel:
Die spektrale Antwort von Silizium-Röntgendetektoren 
Übersetzter Titel:
The Spectral Response of Silicon X-Ray Detectors 
Jahr:
2004 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Betreuer:
Koch, Frederick (Prof. Ph.D.) 
Gutachter:
Koch, Frederick (Prof. Ph.D.); Krücken, Reiner (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Sprache:
de 
Fachgebiet:
PHY Physik 
Stichworte:
Siliziumdriftdetektor; SDD; Röntgendetektor; Modellierung unvollständiger Ladungssammlung; spektraler Untergrund 
Übersetzte Stichworte:
Silicon drift detector; SDD; X-ray detector; modelling of incomplete charge collection; spectral background 
Schlagworte (SWD):
Siliciumdetektor; Driftkammer; Röntgendetektor; Antwortfunktion 
TU-Systematik:
PHY 406d 
Kurzfassung:
Energieauflösende Siliziumdriftdetektoren (SDDs) haben verglichen mit anderen Halbleiterdetektoren viele herausragende Eigenschaften, niederenergetische Röntgenstrahlung generiert jedoch wegen der unvollständigen Ladungssammlung im Detektoreintrittsfenster einen hohen Untergrund. Um dessen Ursachen zu ermitteln, wurde die spektrale Antwort eines SDDs auf niederenergetische Röntgenstrahlung quantitativ modelliert und gemessen. Bei der Modellrechnung werden alle Wahrscheinlichkeiten für Photo-, Au...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Energy dispersive Silicon Drift Detectors (SDDs) show a superior performance compared with other semiconductor detectors, but low energy X-rays generates an undesirable high background due to incomplete charge collection (ICC) in the entrance window. To investigate the reasons for charge losses, a discrete analytic calculation is performed. All loss mechanisms (partial or full loss of both, photo and/or Auger electrons) due to diffusion into the aluminum dead layer are considered. In order to ve...    »
 
Veröffentlichung:
Universitätsbibliothek der TU München 
Mündliche Prüfung:
11.10.2004 
Dateigröße:
4621766 bytes 
Seiten:
173 
Letzte Änderung:
28.08.2007