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Original title:
Entwurfsverfahren zum impliziten funktionalen Test analoger integrierter Schaltungen 
Translated title:
Design methods to the implicit functional test of analog integrated circuits 
Year:
2004 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Antreich, Kurt (Prof. Dr.) 
Referee:
Antreich, Kurt (Prof. Dr.); Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Language:
de 
Subject group:
ELT Elektrotechnik 
Abstract:
Diese Arbeit stellt simulationsbasierte Verfahren zum aufwendigen Entwurf von Testkriterien für analoge integrierte Schaltungskomponenten vor, nach denen Schaltungen beim Test angenommen oder aussortiert werden. Dabei werden mit robusten Optimierverfahren unter Berücksichtigung von Messfehlern die Zielgrößen Ausbeuteeinbuße und Fehlerdurchlässigkeit minimiert, die die Qualität eines Tests bestimmen. Zur effizienten Berechnung der Zielgrößen profitieren die Verfahren von bereits vorhandenen Ergeb...    »
 
Translated abstract:
This thesis presents simulation-based methods for the complex design of go/no-go test criteria for analog integrated circuits. Based on robust optimization methods, the objectives yield loss and fault loss, which determine the quality of a test, are minimized considering measurement errors. For an efficient calculation of the robustness measures, the methods benefit from available results of circuit design and yield optimization. Due to a subtle combination of deterministic and stochastic approa...    »
 
Publication :
Universitätsbibliothek der TU München 
Oral examination:
16.06.2004 
File size:
1018812 bytes 
Pages:
131 
Last change:
25.06.2007