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Originaltitel:
Entwurfsverfahren zum impliziten funktionalen Test analoger integrierter Schaltungen 
Übersetzter Titel:
Design methods to the implicit functional test of analog integrated circuits 
Jahr:
2004 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Antreich, Kurt (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Antreich, Kurt (Prof. Dr.); Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Format:
Text 
Sprache:
de 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Kurzfassung:
Diese Arbeit stellt simulationsbasierte Verfahren zum aufwendigen Entwurf von Testkriterien für analoge integrierte Schaltungskomponenten vor, nach denen Schaltungen beim Test angenommen oder aussortiert werden. Dabei werden mit robusten Optimierverfahren unter Berücksichtigung von Messfehlern die Zielgrößen Ausbeuteeinbuße und Fehlerdurchlässigkeit minimiert, die die Qualität eines Tests bestimmen. Zur effizienten Berechnung der Zielgrößen profitieren die Verfahren von bereits vorhandenen Ergeb...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
This thesis presents simulation-based methods for the complex design of go/no-go test criteria for analog integrated circuits. Based on robust optimization methods, the objectives yield loss and fault loss, which determine the quality of a test, are minimized considering measurement errors. For an efficient calculation of the robustness measures, the methods benefit from available results of circuit design and yield optimization. Due to a subtle combination of deterministic and stochastic approa...    »
 
Veröffentlichung:
Universitätsbibliothek der TU München 
Mündliche Prüfung:
16.06.2004 
Dateigröße:
1018812 bytes 
Seiten:
131 
Letzte Änderung:
25.06.2007