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Document type:
Patentanmeldung 
Patent application number:
10 2017 002 419.7 
Assignee:
Lu, M. 
Title:
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie. 
Patent office:
DE 
Date of application:
14.03.2017 
Publication date application:
20.09.2018 
Year:
2018