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Document type:
Patentanmeldung 
Patent application number:
DE 10 2017 002 419.7 
Inventor:
Lu, M. 
Assignee:
Lu, M. 
Title:
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie 
Patent office:
Deutschland 
Application number:
DE 10 2017 002 419.7 
Date of application:
14.03.2017 
Year:
2017 
Language:
de 
TUM Institution:
Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik 
Format:
Text 
Ingested:
04.01.2018 
Last change:
08.02.2018