Martre, P.; Reynolds, M.; Asseng, S.; Ewert, F.; Alderman, P. D.; Cammarano, D.; Maiorano, A.; Ruane, A. C. ; Aggarwal, P. K.; Anothai, J.; Basso, B.; Biernath, C.; Challinor, A. J.; De Sanctis, G.; Doltra, J.; Dumont, B.; Fereres, E.; Garcia-Vila, M.; Gayler, S.; Hoogenboom, G.; Hunt, L. A.; Izaurralde, R. C.; Jabloun, M.; Jones, C. D.; Kassie, B. T.; Kersebaum, K. C.; Koehler, A-K.; Müller, C.; Kumar, S. N.; Liu, B.; Lobell, D. B.; Nendel, C.; O'Leary, G.; Olesen, J. E.; Palosuo, T.; Priesack, E.; Rezaei, E. E.; Ripoche, D.; Rötter, R. P.; Semenov, M.l A.; Stöckle, C.; Stratonovitch, P.; Streck, T.; Supit, I.; Tao, F.; Thorburn, P.; Waha, K; Wang, E.; White, J. W.; Wolf, J.; Zhao, Z.; Zhu, Y.     «

Martre, P.; Reynolds, M.; Asseng, S.; Ewert, F.; Alderman, P. D.; Cammarano, D.; Maiorano, A.; Ruane, A. C. ; Aggarwal, P. K.; Anothai, J.; Basso, B.; Biernath, C.; Challinor, A. J.; De Sanctis, G.; Doltra, J.; Dumont, B.; Fereres, E.; Garcia-Vila, M.; Gayler, S.; Hoogenboom, G.; Hunt, L. A.; Izaurralde, R. C.; Jabloun, M.; Jones, C. D.; Kassie, B. T.; Kersebaum, K. C.; Koehler, A-K.; Müller, C.; Kumar, S. N.; Liu, B.; Lobell, D. B.; Nendel, C.; O'Leary, G.; Olese...     »