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Autor(en):
Li, Tianjian; Xie, Feng; Liang, Xiaoyao; Xu, Qiang; Chakrabarty, Krishnendu; Jing, Naifeng; Jiang, Li 
Titel:
A Novel Test Method for Metallic CNTs in CNFET-Based SRAMs 
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 
Jahr:
2016 
Band / Volume:
35 
Heft / Issue:
Seitenangaben Beitrag:
1192-1205 
Verlag / Institution:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 
E-ISSN:
0278-00701937-4151 
Publikationsdatum:
01.07.2016