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Technische Elektronik (Prof. Schmitt-Landsiedel)
Hommel_2016
Author(s):
Hommel, S.; Killat, N.; Altes, A.; Schweinboeck, T.; Schmitt-Landsiedel, D.; Silvestri, M.; Haeberlen, O.
Title:
{S}canning {M}icrowave {M}icroscopy for {E}lectronic {D}evice {A}nalysis on {N}anometre {S}cale
Journal title:
Microelectronics Reliability
Year:
2016
Journal volume:
64
Month:
sep
Fulltext / DOI:
doi:10.1016/j.microrel.2016.07.134
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Occurrences:
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