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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Ulewicz, S.; Vogel-Heuser, B. 
Titel:
System Regression Test Prioritization in Factory Automation - Relating Functional System Tests to the Tested Code using Field Data 
Kongress- / Buchtitel:
42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON) 
Konferenzort:
Florence, Italy 
Jahr:
2016 
Nachgewiesen in:
Scopus; Web of Science