Benutzer: Gast  Login
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Huang, Y.; Wachutka, G. 
Titel:
Comparative Study of Contact Topographies of 4,5 kV SiC MPS Diodes for Optimizing the Forward Characteristics 
Seitenangaben Beitrag:
117-120 
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of Simulation of Semiconductor Processes and Devices 
Konferenzort:
Nuremberg, Germany 
Jahr:
2016 
Sprache:
en