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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz 
Autor(en):
Weitkamp, T.; Zanette, I.; Schulz, G.; Bech, M.; Rutishauser, S.; Lang, S.; Donath, T.; Tapfer, A.; Deyhle, H.; Bernard, P.; Valade, J.‐P.; Reznikova, E.; Kenntner, J.; Mohr, J.; Müller, B.; Pfeiffer, F.; David, C.; Baruchel, J. 
Titel:
X‐ray Grating Interferometry at ESRF: Applications and Recent Technical Developments 
Zeitschriftentitel:
AIP Conference Proceedings 
Jahr:
2011 
Band / Volume:
1365 
Seitenangaben Beitrag:
28-31