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Autor(en):
Thibault, P.; Dierolf, M.; Menzel, A.; Bunk, O.; David, C.; Pfeiffer, F. 
Titel:
High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy 
Zeitschriftentitel:
Science 
Jahr:
2008 
Band / Volume:
321 
Heft / Issue:
5887 
Seitenangaben Beitrag:
379-382 
Verlag / Institution:
American Association for the Advancement of Science (AAAS) 
Publikationsdatum:
18.07.2008