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- Autor(en):
- Pfeiffer, Franz; Zhang, Wei; Robinson, Ian K.
- Titel:
- Coherent grazing exit x-ray scattering geometry for probing the structure of thin films
- Zeitschriftentitel:
- Appl. Phys. Lett.
- Jahr:
- 2004
- Band / Volume:
- 84
- Heft / Issue:
- 11
- Seitenangaben Beitrag:
- 1847
- Volltext / DOI:
- doi:10.1063/1.1669061
- Verlag / Institution:
- AIP Publishing
- Publikationsdatum:
- 01.01.2004
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