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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz 
Autor(en):
Zanette, I.; Rutishauser, S.; David, C.; Weitkamp, T. 
Titel:
X‐ray Interferometry with Two‐Dimensional Gratings 
Zeitschriftentitel:
AIP Conference Proceedings 
Jahr:
2011 
Band / Volume:
1365 
Seitenangaben Beitrag:
325-328