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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
David May, Walter Stechele 
Titel:
Design of Fine-grained Sequential Approximate Circuits using Probability-aware Fault Emulation 
Kongress- / Buchtitel:
International Symposium on Low Power Electronics and Design 
Konferenzort:
Rom 
Jahr:
2015 
Jahr / Monat:
2015-07