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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Philipps, J.; Pretschner, A.; Slotosch, O.; Aiglstorfer, E.; Kriebel, S.; Scholl, K. 
Titel:
Model-Based Test Case Generation for Smart Cards1 1Support by the BMBF (project EMPRESS) is gratefully acknowledged. 
Seitenangaben Beitrag:
170-184 
Stichworte:
testing, model 
Kongress- / Buchtitel:
Electronic Notes in Theoretical Computer Science 
Verlag / Institution:
Elsevier BV 
Publikationsdatum:
01.08.2003 
Jahr:
2003