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- Autor(en):
- Kaleve, Abraham; Sinnesbichler, Franz X.; Olbrich, Gerhard R.
- Titel:
- 1/f-Noise Parameter Extraction for Advanced Semiconductor Devices
- Kongress- / Buchtitel:
- 5th European IC-CAP User Meeting
- Verlagsort:
- Marseille, France
- Jahr:
- 1999
- Monat:
- jun
- Seiten:
- 1--5
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