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Autor(en):
Kaleve, Abraham; Sinnesbichler, Franz X.; Olbrich, Gerhard R. 
Titel:
1/f-Noise Parameter Extraction for Advanced Semiconductor Devices 
Kongress- / Buchtitel:
5th European IC-CAP User Meeting 
Verlagsort:
Marseille, France 
Jahr:
1999 
Monat:
jun 
Seiten:
1--5