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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Sandow, C.; Baburske, R.; Niedernostheide, F.-J.; Pfirsch, F.; Toechterle, C. 
Titel:
Exploring the Limits of the Safe Operation Area of Power Semiconductor Devices 
Seitenangaben Beitrag:
pp. 49-52 
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processe and Devices 
Kongress / Zusatzinformationen:
SISPAD 2014, September 9-11, Yokohama, Japan 
Jahr:
2014 
Sprache:
en