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Autor(en):
Phaneuf, R. J.; Kan, H.-C.; Marsi, M.; Gregoratti, L.; Günther, S.; Kiskinova, M. 
Titel:
Imaging the variation in band bending across a silicon pn junction surface using spectromicroscopy 
Zeitschriftentitel:
J. Appl. Phys. 
Jahr:
2000 
Band / Volume:
88 
Seitenangaben Beitrag:
863 
Verlag / Institution:
AIP Publishing 
Publikationsdatum:
01.01.2000