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Document type:
Konferenzbeitrag 
Author(s):
Haberle,T.; Baier,H. 
Title:
Messen von kleinen Verformungen an CFK-Proben bei Tieftemperatur 
Dewey Decimal Classification:
620 Ingenieurwissenschaften 
Book / Congress title:
DGLR-Jahrestagung 2000 
Date of congress:
September 19.-21. 
Year:
2000 
Month:
Jan