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Autor(en):
Kleeberger, Veit B.; Barke, Martin; Werner, Christoph; Schmitt-Landsiedel, Doris; Schlichtmann, Ulf 
Titel:
A Compact Model for NBTI Degradation and Recovery under Use-Profile Variations and its Application to Aging Analysis of Digital Integrated Circuits 
Zeitschriftentitel:
Microelectronics Reliability 
Jahr:
2014 
Band / Volume:
54 
Monat:
June-July 
Heft / Issue:
6-7 
Seitenangaben Beitrag:
1083-1089