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Autor(en):
Kleeberger, Veit B.; Gimmler-Dumont, Christina; Weis, Christian; Herkersdorf, Andreas; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Schlichtmann, Ulf; Wehn, Norbert 
Titel:
A Cross-Layer Technology-Based Study of How Memory Errors Impact System Resilience 
Zeitschriftentitel:
IEEE Micro 
Jahr:
2013 
Band / Volume:
33 
Monat:
jul 
Heft / Issue: