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- Autor(en):
- Pour Aryan, Nasim; Wirnshofer, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris; Georgakos, Georg
- Titel:
- An in situ Timing Measurement Method for Reliability Diagnosis of Digital Circuits
- Kongress- / Buchtitel:
- Zuverlässigkeit und Entwurf - 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung
- Band / Teilband / Volume:
- Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 244)
- Verlagsort:
- Dresden
- Jahr:
- 2013
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