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Autor(en):
Pour Aryan, Nasim; Wirnshofer, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris; Georgakos, Georg 
Titel:
An in situ Timing Measurement Method for Reliability Diagnosis of Digital Circuits 
Kongress- / Buchtitel:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung 
Band / Teilband / Volume:
Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 244) 
Verlagsort:
Dresden 
Jahr:
2013