The EDMR Microscope: Combining Conductive Atomic Force Microscopy with Electrically Detected Magnetic Resonance
Translated title:
Das EDMR-Mikroskop: Eine Kombination von elektrisch detektierter magnetischer Resonanz und Rastersondenmethoden
Author:
Klein, Konrad
Year:
2014
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Physik
Advisor:
Brandt, Martin S. (Prof. Dr.)
Referee:
Brandt, Martin S. (Prof. Dr.); Grundler, Dirk (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
PHY Physik
Abstract:
A scanning probe microscope combining electrically detected magnetic resonance (EDMR) and (photo-)conductive atomic force microscopy for room and low temperature operation was developed. The microscope is capable to detect spatial EDMR contrasts on length scales of a few micrometer and resonant current changes as low as 20 fA. In addition, defect states in amorphous silicon thin films were investigated with broadband EDMR.
Translated abstract:
Es wurde ein Rastersondenmikroskop entwickelt, das elektrisch detektierte magnetische Resonanz (EDMR) mit ortsaufgelösten (Photo-)Strommessungen kombiniert und für Raum- und Tieftemperaturbetrieb ausgelegt ist. Mit Hilfe des Mikroskops kann ein EDMR-Kontrast auf Längenskalen von wenigen Mikrometern aufgelöst und eine resonante Stromänderung in der Größenordnung von 20 fA detektiert werden. Außerdem wurden Defektzustände in amorphen Siliziumdünnfilmen mit breitbandiger EDMR untersucht.
Series:
Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie
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