Benutzer: Gast  Login
Originaltitel:
The EDMR Microscope: Combining Conductive Atomic Force Microscopy with Electrically Detected Magnetic Resonance 
Übersetzter Titel:
Das EDMR-Mikroskop: Eine Kombination von elektrisch detektierter magnetischer Resonanz und Rastersondenmethoden 
Jahr:
2014 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Betreuer:
Brandt, Martin S. (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Brandt, Martin S. (Prof. Dr.); Grundler, Dirk (Prof. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
PHY Physik 
Kurzfassung:
A scanning probe microscope combining electrically detected magnetic resonance (EDMR) and (photo-)conductive atomic force microscopy for room and low temperature operation was developed. The microscope is capable to detect spatial EDMR contrasts on length scales of a few micrometer and resonant current changes as low as 20 fA. In addition, defect states in amorphous silicon thin films were investigated with broadband EDMR. 
Übersetzte Kurzfassung:
Es wurde ein Rastersondenmikroskop entwickelt, das elektrisch detektierte magnetische Resonanz (EDMR) mit ortsaufgelösten (Photo-)Strommessungen kombiniert und für Raum- und Tieftemperaturbetrieb ausgelegt ist. Mit Hilfe des Mikroskops kann ein EDMR-Kontrast auf Längenskalen von wenigen Mikrometern aufgelöst und eine resonante Stromänderung in der Größenordnung von 20 fA detektiert werden. Außerdem wurden Defektzustände in amorphen Siliziumdünnfilmen mit breitbandiger EDMR untersucht. 
Serie / Reihe:
Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie 
Bandnummer:
177 
ISBN:
978-3-941650-77-0 
Mündliche Prüfung:
16.04.2014 
Letzte Änderung:
11.07.2014