Benutzer: Gast  Login
Autor(en):
Lorenz, Dominik; Barke, Martin; Schlichtmann, Ulf 
Titel:
Efficiently analyzing the impact of aging effects on large integrated circuits 
Zeitschriftentitel:
Microelectronics Reliability 
Jahr:
2012 
Band / Volume:
52 
Monat:
aug 
Heft / Issue:
Seitenangaben Beitrag:
1546-1552