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Dokumenttyp:
Semesterarbeit 
Autor(en):
Müller, S. 
Titel:
Modellierung und Simulation der mechanischen Beanspruchung eines elektrischen Wafertests 
Jahr:
2008 
Monat:
November 
Hinweise:
Advisor: C. Krempaszky 
Hochschule / Universität:
Technische Universität München 
Fakultät:
Fakultät für Maschinenwesen 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Werkstoffkunde und Werkstoffmechanik 
Ort:
München