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Originaltitel:
On the Sizing of Analog Integrated Circuits towards Lifetime Robustness 
Übersetzter Titel:
Zur Dimensionierung von analogen integrierten Schaltungen im Hinblick auf die Lebensdauerrobustheit 
Jahr:
2013 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.) 
Gutachter:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.); Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Kurzfassung:
The reliability of analog integrated circuits becomes a major concern for the semiconductor industry as technology continuously scales. This thesis proposes an efficient method for sizing of analog integrated circuits towards the robustness in their lifetime. It is based on the analysis and optimization of the fresh worst-case distance value for each circuit performance as a robustness measure considering manufacturing process variations and transistor aging effects. The fresh and aged sizing ru...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Diese Arbeit schlägt eine effiziente Methode zur Dimensionierung von analogen integrierten Schaltungen im Hinblick auf die Robustheit über die Lebensdauer hinweg vor. Zur Beschleunigung der Abschätzung der Lebensdauerrobustheit stellt die Arbeit einen neuen Ansatz vor, bei dem die Worst-Case-Abstände der gealterten Schaltung mittels Empfindlichkeitsanalysen der frischen Schaltung abgeschätzt werden. 
Mündliche Prüfung:
30.07.2013 
Dateigröße:
902248 bytes 
Seiten:
124 
Letzte Änderung:
19.09.2013