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Original title:
On the Sizing of Analog Integrated Circuits towards Lifetime Robustness 
Translated title:
Zur Dimensionierung von analogen integrierten Schaltungen im Hinblick auf die Lebensdauerrobustheit 
Year:
2013 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.) 
Referee:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.); Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Language:
en 
Subject group:
ELT Elektrotechnik 
Abstract:
The reliability of analog integrated circuits becomes a major concern for the semiconductor industry as technology continuously scales. This thesis proposes an efficient method for sizing of analog integrated circuits towards the robustness in their lifetime. It is based on the analysis and optimization of the fresh worst-case distance value for each circuit performance as a robustness measure considering manufacturing process variations and transistor aging effects. The fresh and aged sizing ru...    »
 
Translated abstract:
Diese Arbeit schlägt eine effiziente Methode zur Dimensionierung von analogen integrierten Schaltungen im Hinblick auf die Robustheit über die Lebensdauer hinweg vor. Zur Beschleunigung der Abschätzung der Lebensdauerrobustheit stellt die Arbeit einen neuen Ansatz vor, bei dem die Worst-Case-Abstände der gealterten Schaltung mittels Empfindlichkeitsanalysen der frischen Schaltung abgeschätzt werden. 
Oral examination:
30.07.2013 
File size:
902248 bytes 
Pages:
124 
Last change:
19.09.2013