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- Autor(en):
- Olbrich, Gerhard R.; Schenk, T.
- Titel:
- Measurement of 1/f Noise on Microwave Transistors
- Kongress- / Buchtitel:
- URSI International Symposium on Signals, Systems, and Electronics (ISSSE)
- Band / Teilband / Volume:
- 1
- Verlagsort:
- Paris, France
- Jahr:
- 1992
- Monat:
- sep
- Seiten:
- 772--775
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