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Autor(en):
Olbrich, Gerhard R.; Schenk, T. 
Titel:
Measurement of 1/f Noise on Microwave Transistors 
Kongress- / Buchtitel:
URSI International Symposium on Signals, Systems, and Electronics (ISSSE) 
Band / Teilband / Volume:
Verlagsort:
Paris, France 
Jahr:
1992 
Monat:
sep 
Seiten:
772--775