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Autor(en):
Dressel, Wolfgang; Mangold, Tobias; Vietzorreck, Larissa; Russer, Peter
Titel:
Time Domain Characterization of Multichip Module Elements
Kongress- / Buchtitel:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium
Band / Teilband / Volume:
2
Verlagsort:
Phoenix, AZ, USA
Jahr:
2001
Monat:
may
Seiten:
1033--1036
Volltext / DOI:
doi:10.1109/MWSYM.2001.967068
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