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Originaltitel:
Aging Degradation and Countermeasures in Deep-submicrometer Analog and Mixed Signal Integrated Circuits 
Übersetzter Titel:
Alterung Degradation und Gegenmaßnahmen in Deep-Submikrometer-Analog-und Mixed-Signal integrierte Schaltungen 
Jahr:
2012 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.); Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Stichworte:
Aging, Degradation, HCI, BTI, Analog, Mixed Signal, Countermeasures 
Übersetzte Stichworte:
Alterung, Degradation, HCI, BTI, Analog, Mixed-Signal, Gegenmaßnahme 
Kurzfassung:
This thesis presents the outcome of investigations on the effects of aging induced parameter shifts and performance degradation in analog and mixed signal circuits fabricated in deep-submicrometer CMOS technologies. The combined effect of several mechanisms like bias temperature instability, conducting and non-conducting hot carrier injection on the circuit performance is evaluated. These degradation mechanisms induce threshold voltage and drain current shifts that can result into mismatch in ma...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Diese Arbeit untersucht durch Alterungsmechanismen induzierte Parameterdrift und Degradation der Schaltungseigenschaften von Analog-und Mixed-Signal-Schaltungen in Submikrometer-CMOS-Technologien. Dazu wird der kombinierte Effekt von mehreren Degradationsmechanismen wie Bias Temperature Instability und Injektion heißer Ladungsträger auf das Schaltungsverhalten ermittelt. Diese Mechanismen induzieren Schwellspannungs- und Drain-Stromdriften. Dadurch entstehende Offsets in Transistorpaaren können...    »
 
Mündliche Prüfung:
22.06.2012 
Dateigröße:
2383969 bytes 
Seiten:
153 
Letzte Änderung:
12.07.2012