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Original title:
Aging Degradation and Countermeasures in Deep-submicrometer Analog and Mixed Signal Integrated Circuits 
Translated title:
Alterung Degradation und Gegenmaßnahmen in Deep-Submikrometer-Analog-und Mixed-Signal integrierte Schaltungen 
Year:
2012 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Referee:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.); Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.) 
Language:
en 
Subject group:
ELT Elektrotechnik 
Keywords:
Aging, Degradation, HCI, BTI, Analog, Mixed Signal, Countermeasures 
Translated keywords:
Alterung, Degradation, HCI, BTI, Analog, Mixed-Signal, Gegenmaßnahme 
Abstract:
This thesis presents the outcome of investigations on the effects of aging induced parameter shifts and performance degradation in analog and mixed signal circuits fabricated in deep-submicrometer CMOS technologies. The combined effect of several mechanisms like bias temperature instability, conducting and non-conducting hot carrier injection on the circuit performance is evaluated. These degradation mechanisms induce threshold voltage and drain current shifts that can result into mismatch in ma...    »
 
Translated abstract:
Diese Arbeit untersucht durch Alterungsmechanismen induzierte Parameterdrift und Degradation der Schaltungseigenschaften von Analog-und Mixed-Signal-Schaltungen in Submikrometer-CMOS-Technologien. Dazu wird der kombinierte Effekt von mehreren Degradationsmechanismen wie Bias Temperature Instability und Injektion heißer Ladungsträger auf das Schaltungsverhalten ermittelt. Diese Mechanismen induzieren Schwellspannungs- und Drain-Stromdriften. Dadurch entstehende Offsets in Transistorpaaren können...    »
 
Oral examination:
22.06.2012 
File size:
2383969 bytes 
Pages:
153 
Last change:
12.07.2012