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Original title:
Verfahren zum eingebauten Selbsttest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen 
Translated title:
Built-in self-test techniques for analog and mixed-signal integrated circuits 
Year:
2011 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.) 
Referee:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.); Sattler, Sebastian M. (Prof. Dr.) 
Language:
de 
Subject group:
ELT Elektrotechnik 
Keywords:
Produktionstest, analoger Test, gemischt analog-digitaler Test, eingebauter Selbsttest, integrierte Schaltungen, Analog-Digital-Wandler, Delta-Sigma-Modulation, Goertzel-Algorithmus 
Translated keywords:
production testing, analog test, mixed-signal test, built-in self-test, integrated circuits, analog-digital-converter, delta sigma modulation, Goertzel algorithm 
Abstract:
Die vorliegende Arbeit stellt ein neues Selbsttestverfahren für den Produktionstest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen vor. Es beruht auf der Verwendung eines auf der Delta-Sigma-Modulation basierten digitalen Verfahrens zur Generierung des erforderlichen analogen Testsignals. Außerdem wird ein auf dem Goertzel-Algorithmus basiertes digitales Verfahren zur Extraktion und Auswertung von Spezifikationsparametern verwendet. Einen zentralen Aspekt der Arbeit stellt d...    »
 
Translated abstract:
This dissertation presents a new built-in self-test (BIST) technique for the production testing of analog and mixed-signal integrated circuits. The proposed BIST technique uses a digital method based on delta-sigma modulation to generate a high-precision analog test stimulus. Furthermore, a digital method based on the Goertzel algorithm is used to extract and evaluate specification parameters on-chip. A main objective of this dissertation is the analysis of the accuracy of the evaluation algorit...    »
 
Oral examination:
24.03.2011 
File size:
1815138 bytes 
Pages:
142 
Last change:
03.05.2011