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Originaltitel:
Verfahren zum eingebauten Selbsttest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen 
Übersetzter Titel:
Built-in self-test techniques for analog and mixed-signal integrated circuits 
Jahr:
2011 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.) 
Gutachter:
Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.); Sattler, Sebastian M. (Prof. Dr.) 
Sprache:
de 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Stichworte:
Produktionstest, analoger Test, gemischt analog-digitaler Test, eingebauter Selbsttest, integrierte Schaltungen, Analog-Digital-Wandler, Delta-Sigma-Modulation, Goertzel-Algorithmus 
Übersetzte Stichworte:
production testing, analog test, mixed-signal test, built-in self-test, integrated circuits, analog-digital-converter, delta sigma modulation, Goertzel algorithm 
Kurzfassung:
Die vorliegende Arbeit stellt ein neues Selbsttestverfahren für den Produktionstest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen vor. Es beruht auf der Verwendung eines auf der Delta-Sigma-Modulation basierten digitalen Verfahrens zur Generierung des erforderlichen analogen Testsignals. Außerdem wird ein auf dem Goertzel-Algorithmus basiertes digitales Verfahren zur Extraktion und Auswertung von Spezifikationsparametern verwendet. Einen zentralen Aspekt der Arbeit stellt d...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
This dissertation presents a new built-in self-test (BIST) technique for the production testing of analog and mixed-signal integrated circuits. The proposed BIST technique uses a digital method based on delta-sigma modulation to generate a high-precision analog test stimulus. Furthermore, a digital method based on the Goertzel algorithm is used to extract and evaluate specification parameters on-chip. A main objective of this dissertation is the analysis of the accuracy of the evaluation algorit...    »
 
Mündliche Prüfung:
24.03.2011 
Dateigröße:
1815138 bytes 
Seiten:
142 
Letzte Änderung:
03.05.2011